Test ja diagnostika (IEE1540)
PÕHIANDMED
õppeaine register
A - põhiregister
õppeaine kood
IEE1540
õppeaine nimetus eesti k
Test ja diagnostika
õppeaine nimetus inglise k
Test and Diagnostics
õppeaine maht AP
-
õppeaine maht EAP
6.00
deklareeritav
jah
kontrollivorm
eksam
õpetamise semester
sügis
õppekeel
eesti keel
inglise keel
Õppekavad, millesse aine kuulub
Ainet õpetavad struktuuriüksused
IE - Thomas Johann Seebecki elektroonikainstituut
Ainekaardi link
Tunniplaani link
Vaata tunniplaani
Versioon:
VERSIOONIPÕHISED ANDMED
õppeaine eesmärgid eesti k
Anda teoreetilised ja praktilised alused analoog- ja digitaal elektroonika- testi ja diagnostika algoritmidest ja lahendusest.
õppeaine eesmärgid inglise k
To give theoretical and practical base for test and diagnostics in analog and digital electronics.
õppeaine õpiväljundid eesti k.
Aine läbinud üliõpilane teab põhilisi testi ja diagnostika meetodeid ja oskab valida sobivaid konkreetsete ülesannete puhul.
õppeaine õpiväljundid ingl k.
Having finished the study of the subject a student knows the theoretical and practical aspects of the topic and is able to find appropriate practical solutions as needed.
õppeaine sisu lühikirjeldus eesti k
Elektronaparatuuri ja selle sõlmede vigade avastamise ja lokaliseerimise põhistrateegiad, meetodid ja algoritmid. Testi sügavus ja maksumus. Tänapäevaste testivahendite funktsionaalsed võimalused, töökiiruse ja täpsuse nõuded. Kontaktliidesed. Kontaktitu test (AOI, XOI jm.). Analoog-, digitaal ja seguskeemide diagnostika. Lülituste dekompositsioon, testi optimeerimine. Automatiseeritud testi- ja diagnostikasüsteemid. Test tootmises, tootearendus ja testitavus. Testi tüübid. Testsignaalid ja -vektorid, reaktsioon, testi kriteeriumid. Automaatse testvektorite genereerimine. Scan-test. Sisseehitatud süsteemide test.
õppeaine sisu lühikirjeldus ingl k
Principles, methods and algorithms of testing and diagnosis of faults of electronic devices and components. Depth, coverage and cost of the test. Functionality of modern test equipment, speed and accuracy. Test fixtures. Contactless testing (e.g. AOI, XOI). Diagnostics of analog, digital and mixed circuits. Decomposition of circuits, test optimisation. Automated test equipment (ATE). Test in production, design for testability.Test types. testsignals and vectors, test criterias. Automated generation of test vectors. Test of embedded systems.
hindamisviis eesti k
Teadmiste kontroll toimub eksamil. Üliõpilane peab eksamile pääsemiseks olema sooritanud harjutused-praktikumid. Eksamil kontrollitakse üliõpilase teoreetilisi teadmisi. Eksamihinne kujuneb eksamiküsimuste vastustega saadud alusel. Kokkuleppel õppejõuga võib ainet sooritada osade kaupa semestri jooksul.
hindamisviis ingl k
The control of knowledges takes place in examinations at the end of a term. For the getting a permission to an examination it is necessary to do all hands-on-exercises. In examination the theoretical knowledge is checked. The lecturer has a right to examine students by parts during a term.
iseseisev töö eesti k
Referaat.
iseseisev töö ingl k
Presentation.
õppekirjandus
Handbook of testing electronic systems (Ondrej Novák, Elena Gramatová, Raimund Ubar et al), 2005 (395 pp)
õppevormid ja mahud
päevaõpe: nädalatunnid
3.0
sessioonõppe töömahud (semestris):
loenguid
2.0
loenguid
-
praktikume
1.0
praktikume
-
harjutusi
0.0
harjutusi
-
vastutav õppejõud
-
ÕPPEJÕU AINEKAVA INFO
õppetöö semester
õpetav õppejõud / üksus
õppetöö keel
Laiendatud ainekava
2023/2024 sügis
Olev Märtens, IE - Thomas Johann Seebecki elektroonikainstituut
inglise keel
    kuva rohkem
    2022/2023 sügis
    Olev Märtens, IE - Thomas Johann Seebecki elektroonikainstituut
    inglise keel
      2021/2022 sügis
      Olev Märtens, IE - Thomas Johann Seebecki elektroonikainstituut
      inglise keel
        IEE1540 Test ja diagnostika hindamiskriteeriumid.pdf 
        2020/2021 sügis
        Olev Märtens, IE - Thomas Johann Seebecki elektroonikainstituut
        inglise keel
          IEE1540 Test ja diagnostika hindamiskriteeriumid.pdf 
          2019/2020 sügis
          Olev Märtens, IE - Thomas Johann Seebecki elektroonikainstituut
          inglise keel
            IEE1540 Test ja diagnostika hindamiskriteeriumid.pdf 
            Ainekaart eesti keeles
            Ainekaart inglise keeles